光電性能測(cè)試 - 凌云光技術(shù)股份有限公司

科學(xué)圖像

光電性能測(cè)試: 基于國(guó)標(biāo)GBT41310-2022和EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)，Themis系列光電性能測(cè)試平臺(tái)是凌云光為滿足國(guó)內(nèi)不同相機(jī)/芯片成像性能測(cè)試標(biāo)定的市場(chǎng)需求而推出的，可輸出統(tǒng)一可對(duì)比的參數(shù)指標(biāo)。共分為Themis Pro標(biāo)準(zhǔn)大型測(cè)試平臺(tái)和Themis Box標(biāo)準(zhǔn)小型測(cè)試平臺(tái)兩種，方便用戶測(cè)試不同成像靶面的相機(jī)/芯片。集成標(biāo)準(zhǔn)化硬件和軟件，Themis光電性能測(cè)試平臺(tái)致力于為相機(jī)/芯片支撐的多元場(chǎng)景提供真實(shí)的測(cè)試支持。